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Siège de Test de puces brûlantes QFN32-0.5, siège de programmation de carte à Double couche avec Shrapnel rabattable
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1. Fréquence de travail : haute fréquence.
2. Domaine d'application: circuit intégré IC
3. Processus de production : moulage par injection
4. Matériau de contact : éclats de cuivre-béryllium
5. Matériau isolant : PPS PET
6. Nombre de cœurs : 32
7. Nom : éclats d'obus QFN32 sur siège d'essai 152
8. Objectif : prise de programmation et prise de test, pour programmer et tester les puces IC QFN32
9. Taille de la puce : 5x5 cm
10. Espacement des broches : 0,5 mm
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